技术文章您现在的位置:首页 > 技术文章 > 关于X光机半价层检测方法

关于X光机半价层检测方法

更新时间:2024-05-10   点击次数:302次

有用线束半值层 HVL

将剂量仪探头放在影像接收器外壳上照射野中心,检测几何条件:将管电压检测探头放在影像接收器外壳或诊断床上照射野中心,调节焦点到探头的距离为 100cm[小型便携机及透视实时摄影(点片装置)系统可采用实际 SID 值],探头下方放一块铅板,设置光野10 cm×10 cm(照射野应全部覆盖探测器灵敏区域并略小于铅板尺寸),中心线束与台面垂直。。 

设置管电压为 80 kV,临床常用管电流时间积,并进行曝光,记录空气比释动能值。 

分别将不同厚度(0 mm,1 mm~5 mm)的铝吸收片依次放在诊断床上方 50 cm(或 1/2 SID)处,用同样的条件进行曝光,依次测量并记录空气比释动能,直至测得的空气比释动能值小于未加铝片时空气比释动能值的一半。 

用作图法或计算法求出 80 kV 时的半值层。

北京伟信楚华商贸有限责任公司

北京伟信楚华商贸有限责任公司

地址:海淀区二里庄5号楼102室

© 2024 版权所有:北京伟信楚华商贸有限责任公司  备案号:京ICP备06053975号-2  总访问量:117302  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆